充电时使用手机会带来多方面的影响，综合权威研究与实际案例，主要危害及表现如下：

一、对电池的直接影响

加速老化与寿命缩短

充电时手机需同时处理数据传输和能量转换，导致电池处于“高负荷”状态。研究表明，这种使用习惯可能将电池正常寿命（500-800次充放循环）缩短至300-400次，加速化学物质老化。

过热风险

充电时电流负载增大，手机温度会显著升高。持续高温会引发电池热失控，严重时可能导致电池鼓包、爆炸或损坏。例如，有用户反馈边充电边玩游戏不到一年电池鼓包。

充电效率降低

长期边充边用会导致电池无法充满，需反复充电，进一步缩短整体使用寿命。

二、对手机硬件的潜在危害

电路板与核心零件损坏

高温会加速电路板老化，增加电容屏失控、芯片过热等风险，尤其山寨机或质量较差的设备更易出现故障。

电压异常

充电时电压本身较高（如待机电压的数倍），若同时运行大型程序，电压负荷可能超过设备承受范围，导致核心部件损坏。

三、其他潜在影响

人体健康风险

长期处于高辐射环境可能对神经系统、血液平衡等产生微妙影响，但此说法尚无充分科学依据。

系统卡顿与死机

电池老化、过热会导致处理器性能下降，运行大型程序时易出现卡顿或死机现象。

四、安全建议

避免边充边用：

充电时尽量保持手机静置，完成充电后再使用。

使用合格设备：选择带有过充、过热保护等安全机制的充电器和电池。

定期维护：若发现手机异常发热或电池鼓包，应立即停止使用并联系售后。

综上，充电时使用手机虽不至于直接引发爆炸，但会显著缩短设备寿命并增加故障风险，建议通过规范充电习惯来保护设备。