对光学系统进行同轴等高调节的核心目的是确保成像系统的几何精度，从而提高成像质量并减少测量误差。具体原因如下：

避免空间角和图像失真

当光学元件（如透镜）的光轴与系统光轴不重合时，会导致透射光线偏离光轴传播，形成空间角。这不仅会引起图像失真，还会使测量的像点位置偏离实际位置，无法准确测量焦距等参数。

实现光轴可视化与精确调节

通过调节同轴等高的小孔或标记点，可以直观地确定光轴位置。例如，激光器透射光线经同轴小孔反射后交汇于光轴，为透镜等元件的独立同轴等高调节提供了可视化方法。

保证成像平面性

光轴重合确保透射光线沿直线传播，反射光线返回后仍沿原路径成像，避免因光轴偏移导致的像平面偏移，从而提高成像清晰度。

满足实验设计要求

光学系统设计基于光轴重合的几何假设，若偏差过大（如中心偏移超过允许值），系统传递函数会急剧下降，导致成像质量严重下降。因此，共轴调节是实验成功的基础。

提高测量精度

在焦距测量等实验中，同轴等高调节直接关系到像点位置的准确性。若光轴不重合，测量结果会因像点偏移产生较大误差，无法满足实验精度要求。

综上，同轴等高调节是光学实验中确保系统几何一致性的关键步骤，对成像质量、测量精度及实验可靠性具有决定性影响。